FTIR 스펙트럼에서 940 cm⁻¹에서 흡수하는 것은 무엇입니까?
940 cm⁻¹ 근처의 밴드는 여러 작용기를 나타낼 수 있습니다. 아래는 각각에 대해 출판된 증거가 얼마나 뒷받침하는지에 따라 순위가 매겨진 가장 가능성 있는 할당입니다 — 각각은 문헌(DOI)으로 추적 가능하며 당사의 130,000개 이상의 참조 스펙트럼 및 지식 그래프에 대해 교차 검증됩니다.
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빠른 답변
940 cm⁻¹ 근처의 밴드는 일반적으로 문헌에서 해당 위치에 반복적으로 공동 발생하는 작용기를 확인한 후, 동일한 샘플에서 적어도 하나 또는 두 개의 추가 피크를 확인하여 해석합니다. 이 페이지는 단일 고정된 교과서 규칙보다는 축적된 증거를 기준으로 해당 할당의 순위를 매깁니다.
가능한 작용기 할당
| 작용기 | 지원 사실 | 인용 출처 | 최고 신뢰도 |
|---|---|---|---|
| 규소-산소 (Si-O) | 10 | 7 | 1.0 |
| 규소 (Si) | 8 | 6 | 1.0 |
| 메타크릴레이트 | 5 | 5 | 1.0 |
| C-O 단일 결합 | 4 | 4 | 1.0 |
| 아세테이트 | 4 | 4 | 1.0 |
| 히드록실 (O-H) | 4 | 4 | 1.0 |
| 메톡시 (OCH3) | 3 | 3 | 1.0 |
| C-C 단일 결합 | 3 | 3 | 1.0 |
| 에스테르 | 3 | 3 | 1.0 |
| 실라놀 (Si-OH) | 3 | 3 | 1.0 |
| 수소 결합 | 2 | 2 | 1.0 |
| 아미드 | 2 | 2 | 1.0 |
| N-H | 2 | 2 | 1.0 |
| 카르보닐 (C=O) | 2 | 2 | 1.0 |
| 붕산염 | 2 | 2 | 1.0 |
| 실리콘 탄소 | 2 | 1 | 1.0 |
| 실록산 (Si-O-Si) | 2 | 1 | 1.0 |
| 산소 헤테로고리 | 2 | 1 | 1.0 |
| 금속 산소 | 1 | 1 | 1.0 |
| C=n | 1 | 1 | 1.0 |
| 2급 아민 | 1 | 1 | 1.0 |
| C n 단일 결합 | 1 | 1 | 1.0 |
| 케톤 | 1 | 1 | 1.0 |
| 카르복실 (COOH) | 1 | 1 | 1.0 |
| 금속 수산기 | 1 | 1 | 1.0 |
| C-S 단일 결합 | 1 | 1 | 1.0 |
| 알킬 C-H | 1 | 1 | 1.0 |
| 규산염 | 1 | 1 | 1.0 |
| 인산염 (PO4) | 1 | 1 | 1.0 |
| 탄수화물 | 1 | 1 | 1.0 |
| 티올 | 1 | 0 | 1.0 |
| 붕소 질소 | 1 | 0 | 1.0 |
| 실리콘 플루오린 | 1 | 0 | 1.0 |
순위는 단일 고정 규칙이 아닌 축적된 문헌 증거를 반영합니다. 항상 샘플 컨텍스트에 대해 확인하십시오.
가능한 재료
동일한 문헌 풀이 이 밴드와 하나 이상의 추가 특징 피크를 지원하는 경우에만 물질이 표시됩니다.
스펙트럼 로직
이 밴드는 인접 피크와 함께 읽을 때만 의미가 있습니다. 실제로 분석가는 먼저 위의 할당을 확인한 다음 동일한 샘플이 동일한 구조 모티프에 대해 예상되는 다른 피크도 나타내는지 확인합니다. 940 cm⁻¹ 근처의 단일 밴드는 일반적으로 재료 식별에 충분하지 않습니다.
실제 사용
이러한 유형의 질의는 고분자 식별, 미지 플라스틱 스크리닝, QC 문제 해결, 재활용 재료 검증 및 문헌 기반 피크 할당 검토에서 일반적입니다.
일반적인 실수
- 하나의 고립된 밴드를 재료의 증거로 취급하고 최소 하나 또는 두 개의 지원 피크를 확인하지 않는 것.
- 겹침 무시: 여러 작용기가 동일한 파수 근처에서 기여할 수 있습니다.
- 첨가제, 혼합물, 산화 또는 오염이 스펙트럼을 왜곡할 수 있는 경우 검증을 건너뜁니다.
검증 조언
모호성이 남아 있는 경우, 특히 혼합물, 분해된 시료 및 충전 폴리머의 경우 DSC, GC-MS 또는 TGA로 가설을 검증하십시오.
이 할당의 배경이 되는 문헌
-
규소 (Si) 신뢰도 1.0
“˜ (cid:110) IR band position at 940 against the isotopic substitution ˜ (cid:110) R 1 confirmed that this band belongs to silicon fluorides such as in terms of the measurable quantities.”
Han 和 Aydil - 1997 - Structure and chemical composition of fluorinated DOI: 10.1116/1.580845 -
규소 (Si) 신뢰도 1.0
“When annealed in nitrogen at different temperatures for varicm(cid:50)1 keeps almost unous durations, the peak at 807 cm(cid:50)1 changed, and the peak at 886 decreases gradually, cm(cid:50)1 cm(cid:50)1 peak at 940 is associated with the b”
Huang 和 Zhai - 1997 - Fourier transform infrared study of porous silicon DOI: 10.1116/1.589575 -
신뢰도 1.0
“940에서 1140 cm-1 영역에서 Si-O 신축 진동에서 비롯된 4개의 피크가 있습니다 [16].”
Loo 和 Gleason - 2004 - Investigation of polymer and nanoclay orientation DOI: 10.1016/j.polymer.2004.06.025 -
C-C 단일 결합 신뢰도 1.0
“5c 강조 피크 940은 당화된 샘플에서 PC 2에서도 우세하며, cm-1 cm-1 1040에서 N-C-C, 따라서 형성으로 인한 진동일 수 있으며 1121이 가장 큰 변동에 기여합니다.”
Mcavan 等 - 2020 - Quantification of protein glycation using vibratio DOI: 10.1039/c9an02318f -
신뢰도 1.0
“After the 940cm¹1 sufficiently, mixture was stirred MMHy deuterated partially is the second harmonic mode of N at the As site N-H structure.27) was separated by strong base.”
Ohshita 等 - 2014 - N-H related defects in GaAsN grown through chemica DOI: 10.7567/JJAP.53.031001 -
붕산염 신뢰도 1.0
“components at 940 and 1058 All these bands are Density of states attributed to the stretching vibration in [BO 4] units [30].”
Rada 等 - 2009 - Structural and electronic properties of tellurite DOI: 10.1007/s10853-009-3433-8 -
탄수화물 신뢰도 1.0
“vibrational peak at about 1160 the peak at a pyranose ring of cm(cid:0) 1, and the sulfate-based absorption peak at about about 940 Infrared spectroscopy was used to evaluate the structural changes in cm(cid:0) 1.”
Shan 等 - 2020 - Rheological and structural properties of ovomucin DOI: 10.1016/j.foodhyd.2019.105393 -
실리콘 탄소 신뢰도 1.0
“x phonon energy of any of the crystalline polytypes of SiC is (cid:4)see (cid:1)b(cid:2)(cid:5), a high resolution image plot which indicates that cm-1,33 (cid:3)940 cm-1 the Raman bands at can be ex972 T a=900 °C, the the as-deposited samp”
Song 等 - 2008 - Structural characterization of annealed Si1-xCxSi DOI: 10.1063/1.2909913
이 밴드가 있는 스펙트럼이 있나요?
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