Cum puteți identifica SiO din FTIR?
Această pagină rezumă dovezile FTIR recurente raportate pentru SiO, inclusiv cele mai frecvente vârfuri, grupările funcționale suport și modelele de interpretare susținute de literatură. Este o pagină structurată de dovezi, nu o afirmație de certitudine automată pe un singur spectru.
Susținut de 39 surse citate
Răspuns rapid
SiO este raportat de obicei cu un model recurent de vârfuri și dovezi de grup funcțional. Cea mai utilă abordare este să verificați încrucișat cel puțin două vârfuri caracteristice înainte de a-l considera o potrivire, apoi să verificați dacă întregul spectru se încadrează în aceeași familie de materiale.
Interpretarea vârfurilor
Materiale / grupuri posibile
| Grup funcțional | Dovezi |
|---|---|
| Siliciu-oxigen (Si-O) | 61 |
| Siloxan (Si-O-Si) | 44 |
| Siliciu (Si) | 43 |
| Hidroxil (O-H) | 26 |
| Metal-oxigen | 17 |
| Metacrilat | 15 |
| Acetat | 15 |
| Metoxi (OCH3) | 14 |
Logica spectrului
Logica aici este agregarea dovezilor: mențiuni repetate în literatură ale SiO, poziții repetate ale vârfurilor și asocieri repetate ale grupurilor funcționale. O ipoteză materială solidă ar trebui să fie susținută de mai multe vârfuri care sunt în acord între ele, nu doar de o singură bandă principală.
Utilizare în condiții reale
Această pagină este concepută pentru identificarea polimerilor, controlul calității materialelor primite, analiza materialelor plastice necunoscute, revizuirea conținutului reciclat și interpretarea spectrelor de referință bazată pe literatură.
Greșeli comune
- Declararea unei potriviri de material prea devreme deoarece un vârf celebru este prezent.
- Ignorarea preparării probei, a materialelor de umplutură, a oxidării, a apei sau a aditivilor care pot schimba modelul aparent.
- Utilizarea dovezilor din literatură fără a verifica dacă propriul mod de eșantionare și calitatea spectrului sunt comparabile.
Sfat de verificare
Utilizați DSC, GC-MS sau TGA pentru a valida ipoteza materialului atunci când modelul de vârf este ambiguu sau mixt.
Literatura din spatele acestei pagini
-
încredere 4,8
SiO
Swe 等 - 2019 - Fabrication of Sol-Gel derived New Quaternary Sili DOI: 10.1063/1.5089369 -
încredere 3,6
SiO
Polymerization of monomers initiated by silyl centers in SiO deposits prepared by pulsed laser ablation DOI: 10.1002/app.24802 -
încredere 3,6
SiO
Fourier transform infrared spectroscopic study of gamma irradiated SiO<sub>2</sub> nanoparticles DOI: 10.1142/S0217979218500741 -
încredere 3,6
SiO
Lee 和 Park - 1996 - Effect of fluorine on dielectric properties of SiO DOI: 10.1063/1.363512 -
încredere 3,6
SiO
Structural and optoelectronic properties of p-type SiO:H films deposited in transition zone DOI: 10.7498/aps.66.196801 -
încredere 3,6
SiO
Luminescence characteristics of O<sup>6+</sup> ion beam and <i>γ</i>-ray irradiated Ca<sub>9</sub>La(PO<sub>4</sub>)<sub>5</sub>(SiO<sub>4</sub>)F<sub>2</sub>:Eu phosphor DOI: 10.1080/10420150.2020.1737696 -
încredere 3,6
SiO
Comparison of FTIR Transmission Spectra of Thermally and LPCVD SiO[sub 2] Films Grown by TEOS Pyrolysis DOI: 10.1149/1.1676725 -
încredere 3,6
SiO
Surface-Modified TiO<sub>2</sub>@SiO<sub>2</sub> Nanocomposites for Enhanced Dispersibility and Optical Performance to Apply in the Printing Process as a Pigment DOI: 10.1021/acsomega.3c02679 -
încredere 3,6
SiO
Signal Enhanced FTIR Analysis of Alignment in NAFION Thin Films at SiO<sub>2</sub> and Au Interfaces DOI: 10.1021/acsmacrolett.5b00800 -
încredere 3,6
SiO
Optical and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiO<sub><i>x</i></sub> Matrix Obtained by HWCVD DOI: 10.1155/2012/368268
Încărcați spectrul FTIR
Obțineți analiza polimerilor asistată de AI și interpretare vârf cu vârf din propriul spectru.