Kā jūs varat identificēt SiO no FTIR?
Šī lapa apkopo atkārtotos FTIR pierādījumus, kas ziņoti par SiO, tostarp biežākās virsotnes, atbalsta funkcionālās grupas un literatūrā balstītus interpretācijas modeļus. Tā ir strukturēta pierādījumu lapa, nevis automātiskas atsevišķa spektra noteiktības apgalvojums.
Pamatots ar 39 citētiem avotiem
Ātra atbilde
SiO parasti tiek ziņots ar atkārtotu pīķu modeli un funkcionālo grupu pierādījumiem. Visnoderīgākā pieeja ir pārbaudīt vismaz divus raksturīgos pīķus, pirms to uzskatīt par atbilstību, pēc tam pārliecināties, vai pilns spektrs joprojām atbilst tai pašai materiālu saimei.
Pīķa interpretācija
Iespējamie materiāli / grupas
| Funkcionālā grupa | Pierādījumi |
|---|---|
| Silicon-oxygen (Si-O) | 61 |
| Siloxane (Si-O-Si) | 44 |
| Silicon (Si) | 43 |
| Hydroxyl (O-H) | 26 |
| Metal oxygen | 17 |
| Methacrylate | 15 |
| Acetate | 15 |
| Methoxy (OCH3) | 14 |
Spektra loģika
Šeit loģika ir pierādījumu apkopošana: atkārtotas literatūras pieminēšanas par SiO, atkārtotas pīķu pozīcijas un atkārtotas funkcionālo grupu asociācijas. Spēcīga materiāla hipotēze joprojām jāatbalsta ar vairākiem pīķiem, kas saskan viens ar otru, nevis tikai ar vienu galveno joslu.
Reālās pasaules izmantošana
Šī lapa ir paredzēta polimēru identificēšanai, ienākošo materiālu kvalitātes kontrolei, nezināmas plastmasas analīzei, pārstrādātā satura pārskatam un ar literatūru pamatotai references spektru interpretācijai.
Biežākās kļūdas
- Pārāk agri paziņot par materiāla atbilstību, jo ir viens pazīstams pīķis.
- Ignorējot parauga sagatavošanu, pildvielas, oksidāciju, ūdeni vai piedevas, kas var mainīt šķietamo modeli.
- Izmantojot literatūras pierādījumus, nepārbaudot, vai jūsu pašu paraugu ņemšanas režīms un spektra kvalitāte ir salīdzināmi.
Verifikācijas padoms
Izmantojiet DSC, GC-MS vai TGA, lai apstiprinātu materiāla hipotēzi, ja pīķu modelis ir neskaidrs vai jaukts.
Literatūra aiz šīs lapas
-
pārliecība 4,8
SiO
Swe 等 - 2019 - Fabrication of Sol-Gel derived New Quaternary Sili DOI: 10.1063/1.5089369 -
pārliecība 3,6
SiO
Polymerization of monomers initiated by silyl centers in SiO deposits prepared by pulsed laser ablation DOI: 10.1002/app.24802 -
pārliecība 3,6
SiO
Fourier transform infrared spectroscopic study of gamma irradiated SiO<sub>2</sub> nanoparticles DOI: 10.1142/S0217979218500741 -
pārliecība 3,6
SiO
Lee 和 Park - 1996 - Effect of fluorine on dielectric properties of SiO DOI: 10.1063/1.363512 -
pārliecība 3,6
SiO
Structural and optoelectronic properties of p-type SiO:H films deposited in transition zone DOI: 10.7498/aps.66.196801 -
pārliecība 3,6
SiO
Luminescence characteristics of O<sup>6+</sup> ion beam and <i>γ</i>-ray irradiated Ca<sub>9</sub>La(PO<sub>4</sub>)<sub>5</sub>(SiO<sub>4</sub>)F<sub>2</sub>:Eu phosphor DOI: 10.1080/10420150.2020.1737696 -
pārliecība 3,6
SiO
Comparison of FTIR Transmission Spectra of Thermally and LPCVD SiO[sub 2] Films Grown by TEOS Pyrolysis DOI: 10.1149/1.1676725 -
pārliecība 3,6
SiO
Surface-Modified TiO<sub>2</sub>@SiO<sub>2</sub> Nanocomposites for Enhanced Dispersibility and Optical Performance to Apply in the Printing Process as a Pigment DOI: 10.1021/acsomega.3c02679 -
pārliecība 3,6
SiO
Signal Enhanced FTIR Analysis of Alignment in NAFION Thin Films at SiO<sub>2</sub> and Au Interfaces DOI: 10.1021/acsmacrolett.5b00800 -
pārliecība 3,6
SiO
Optical and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiO<sub><i>x</i></sub> Matrix Obtained by HWCVD DOI: 10.1155/2012/368268
Augšupielādējiet savu FTIR spektru
Saņemiet ar AI palīdzību veiktu polimēru analīzi un pīķu pīķa interpretāciju no sava spektra.