কীভাবে আপনি FTIR থেকে SiO সনাক্ত করতে পারেন?
এই পৃষ্ঠাটি SiO-এর জন্য রিপোর্ট করা পুনরাবৃত্ত FTIR প্রমাণের সারসংক্ষেপ করে, যার মধ্যে সবচেয়ে ঘন ঘন পিক, সহায়ক কার্যকরী গ্রুপ এবং সাহিত্য-সমর্থিত ব্যাখ্যা প্যাটার্ন অন্তর্ভুক্ত। এটি একটি কাঠামোবদ্ধ প্রমাণ পৃষ্ঠা, স্বয়ংক্রিয় একক-স্পেকট্রাম নিশ্চিততার দাবি নয়।
39টি উদ্ধৃত উৎস দ্বারা সমর্থিত
দ্রুত উত্তর
SiO সাধারণত পিক এবং ফাংশনাল-গ্রুপ প্রমাণের একটি পুনরাবৃত্ত প্যাটার্ন সহ রিপোর্ট করা হয়। সবচেয়ে কার্যকর পদ্ধতি হলো এটিকে ম্যাচ হিসেবে বিবেচনা করার আগে কমপক্ষে দুটি বৈশিষ্ট্যযুক্ত পিক ক্রস-চেক করা, তারপর সম্পূর্ণ স্পেকট্রাম একই উপাদান পরিবারের সাথে খাপ খায় কিনা যাচাই করা।
শিখর ব্যাখ্যা
সম্ভাব্য উপাদান / গোষ্ঠী
| কার্যকরী গ্রুপ | প্রমাণ |
|---|---|
| Silicon-oxygen (Si-O) | 61 |
| Siloxane (Si-O-Si) | 44 |
| Silicon (Si) | 43 |
| Hydroxyl (O-H) | 26 |
| Metal oxygen | 17 |
| Methacrylate | 15 |
| Acetate | 15 |
| Methoxy (OCH3) | 14 |
স্পেকট্রাম লজিক
এখানে যুক্তি হল প্রমাণ সংগ্রহের: SiO-এর পুনরাবৃত্ত সাহিত্য উল্লেখ, পুনরাবৃত্ত শিখর অবস্থান এবং পুনরাবৃত্ত কার্যকরী-গ্রুপ সম্পর্ক। একটি শক্তিশালী উপাদান অনুমান এখনও একাধিক শিখর দ্বারা সমর্থিত হওয়া উচিত যা একে অপরের সাথে একমত, শুধুমাত্র একটি শিরোনাম ব্যান্ড দ্বারা নয়।
বাস্তব বিশ্বের ব্যবহার
এই পৃষ্ঠাটি পলিমার সনাক্তকরণ, আগত-উপাদান QC, অজানা প্লাস্টিক বিশ্লেষণ, পুনর্ব্যবহৃত-উপাদান পর্যালোচনা, এবং রেফারেন্স স্পেকট্রার সাহিত্য-সমর্থিত ব্যাখ্যার জন্য ডিজাইন করা হয়েছে।
সাধারণ ভুল
- একটি বিখ্যাত শিখর উপস্থিত থাকায় খুব তাড়াতাড়ি উপাদান মিল বলা।
- নমুনা প্রস্তুতি, ফিলার, অক্সিডেশন, জল, বা সংযোজন উপেক্ষা করা যা আপাত প্যাটার্ন পরিবর্তন করতে পারে।
- নিজের নমুনা সংগ্রহ পদ্ধতি এবং স্পেকট্রাম গুণমান তুলনাযোগ্য কিনা তা যাচাই না করেই সাহিত্যের প্রমাণ ব্যবহার করা।
পরামর্শ যাচাই
যখন শিখর প্যাটার্ন অস্পষ্ট বা মিশ্রিত থাকে, তখন DSC, GC-MS বা TGA ব্যবহার করে উপাদান অনুমানটি বৈধতা দিন।
এই পৃষ্ঠার পিছনের সাহিত্য
-
আত্মবিশ্বাস 4.8
SiO
Swe 等 - 2019 - Fabrication of Sol-Gel derived New Quaternary Sili DOI: 10.1063/1.5089369 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Polymerization of monomers initiated by silyl centers in SiO deposits prepared by pulsed laser ablation DOI: 10.1002/app.24802 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Fourier transform infrared spectroscopic study of gamma irradiated SiO<sub>2</sub> nanoparticles DOI: 10.1142/S0217979218500741 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Lee 和 Park - 1996 - Effect of fluorine on dielectric properties of SiO DOI: 10.1063/1.363512 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Structural and optoelectronic properties of p-type SiO:H films deposited in transition zone DOI: 10.7498/aps.66.196801 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Luminescence characteristics of O<sup>6+</sup> ion beam and <i>γ</i>-ray irradiated Ca<sub>9</sub>La(PO<sub>4</sub>)<sub>5</sub>(SiO<sub>4</sub>)F<sub>2</sub>:Eu phosphor DOI: 10.1080/10420150.2020.1737696 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Comparison of FTIR Transmission Spectra of Thermally and LPCVD SiO[sub 2] Films Grown by TEOS Pyrolysis DOI: 10.1149/1.1676725 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Surface-Modified TiO<sub>2</sub>@SiO<sub>2</sub> Nanocomposites for Enhanced Dispersibility and Optical Performance to Apply in the Printing Process as a Pigment DOI: 10.1021/acsomega.3c02679 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Signal Enhanced FTIR Analysis of Alignment in NAFION Thin Films at SiO<sub>2</sub> and Au Interfaces DOI: 10.1021/acsmacrolett.5b00800 -
আত্মবিশ্বাস 3.6
SiO
Optical and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiO<sub><i>x</i></sub> Matrix Obtained by HWCVD DOI: 10.1155/2012/368268
আপনার FTIR স্পেকট্রাম আপলোড করুন
আপনার নিজের স্পেকট্রাম থেকে AI-সহায়ক পলিমার বিশ্লেষণ এবং শিখর-দ্বারা-শিখর ব্যাখ্যা পান।