FTIR官能团

硅 (Si) — FTIR 吸收峰及归属

这些是硅 (Si)倾向于吸收的特征FTIR波数,来自已发表文献并按照支持证据排序。每个归属都可追溯到来源(DOI),并针对我们超过13万张参考光谱和知识图谱进行了交叉验证。

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快速答案

硅 (Si)通常通过寻找重复出现的特征峰簇而非某个确切的教科书数值来归属。下表按累积证据排名,展示了文献中最常将此基团置于FTIR中的位置。

硅 (Si) 的特征 FTIR 峰

波数 (cm⁻¹) 支持性事实 引用来源 最高置信度
800 39 36 1.0
1000 29 27 1.0
1100 28 22 1.0
1080 19 17 1.0
460 19 17 1.0
470 15 14 1.0
520 14 14 1.0
950 14 13 1.0
1050 14 11 1.0
1030 13 12 1.0
960 13 10 1.0
1200 12 10 1.0
450 11 11 1.0
900 10 10 1.0
1090 10 9 1.0
1020 9 9 1.0
400 9 8 1.0
1260 8 8 1.0
970 8 8 1.0
840 8 8 1.0
1037 8 8 1.0
790 8 8 1.0
480 8 7 1.0
955 8 7 1.0
940 8 6 1.0
1035 7 7 1.0
694 7 7 1.0
938 7 7 1.0
600 7 7 1.0
795 7 6 1.0

Showing the 30 best-supported peaks of 716 total for 硅 (Si).

可能的材料

材料 支持峰 引用来源
SiC 791, 805, 1136 1

光谱逻辑

当多个预期谱带同时出现时,官能团归属变得更加可靠。使用此页面找到最受支持的峰,然后确认同一样品表现出连贯的模式而非孤立的单个命中。

实际应用

这些页面适用于未知材料分析、报告中的峰解释、聚合物故障排除以及验证候选材料类别是否化学上合理。

常见错误

  • 仅使用一个功能基团页面作为完整的材料判定,而不检查光谱的其余部分。
  • 假设最强谱带总是最具诊断性的。
  • 忘记加工、添加剂、老化和混合物会移动或展宽预期峰。

验证建议

当几种材料类别共享相似谱带或混合物效应使FTIR归属不确定时,请使用DSC、GC-MS或TGA。

这些分配背后的文献

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