Silicon (Si) — FTIR-Absorptionspeaks und Zuordnungen

Schnelle Antwort

Silicon (Si) wird normalerweise durch die Suche nach einem wiederkehrenden Cluster charakteristischer Peaks zugeordnet, nicht nach einer exakten Lehrbuchzahl. Die folgende Tabelle zeigt, wo die Literatur diese Gruppe am häufigsten im FTIR platziert, geordnet nach gesammelten Belegen.

Charakteristische FTIR-Peaks für Silicon (Si)

Zeigt die 30 am besten gestützten Peaks von insgesamt 715 für Silicon (Si) an.

Mögliche Materialien

Spektrumslogik

Eine funktionelle Gruppen-Zuordnung wird sicherer, wenn mehrere erwartete Banden gemeinsam auftreten. Verwenden Sie diese Seite, um die am stärksten gestützten Peaks zu finden, und bestätigen Sie dann, dass dieselbe Probe ein kohärentes Muster und nicht einen einzelnen isolierten Treffer aufweist.

Praktische Anwendung

Diese Seiten sind nützlich für die Analyse unbekannter Materialien, die Erklärung von Peaks in Berichten, die Fehlerbehebung bei Polymeren und die Überprüfung, ob eine in Frage kommende Materialfamilie chemisch plausibel ist.

Häufige Fehler

• Verwendung einer Seite für funktionelle Gruppen als vollständiges Materialurteil, ohne den Rest des Spektrums zu überprüfen.
• Annahme, dass die stärkste Bande immer die diagnostischste ist.
• Vergessen, dass Verarbeitung, Zusatzstoffe, Alterung und Mischungen erwartete Peaks verschieben oder verbreitern können.

Beratung zur Verifizierung

Verwenden Sie DSC, GC-MS oder TGA, wenn mehrere Materialfamilien ähnliche Banden aufweisen oder wenn Mischeffekte die FTIR-Zuordnung unsicher machen.

Literatur hinter diesen Zuweisungen

• 3429 cm⁻¹ Vertrauen 1,0

  “The FTIR spectra of the cm-1 montmorillonite-carbon nanotube nano filler display bands at 3429, 1076, and 798 which correspond to OH functional groups, Si-O-Si stretching, and Si-O-Si vibration, respectively.”

  Synthesis and Physical Properties Characterization of Montmorillonite-modified Carbon Nanotubes Filler DOI: 10.1088/1757-899X/546/4/042004
• 1089 cm⁻¹ Vertrauen 1,0

  “FTIR spectra showed peaks at 1089 and cm-1, 801 which corresponded to asymmetric and symmetric O-Si-O.”

  Fabrication of Biogenic Silica Nanostructures from Sorghum bicolor Leaves for Food Industry Applications DOI: 10.1007/s12633-020-00379-4
• 3604 cm⁻¹ Vertrauen 1,0

  “3741cm-1 sorption peaks at 3604 and observed on both treatment of H-BEA is as follows: H-BEA powder was imH-BEA and Ca/H-BEA have been assigned to Si (OH) Al mersed in an aqueous solution of an alkaline earth metal nibridge structure and lo”

  Phenol oxidation over alkaline earth metal ion exchange beta zeolite in the presence of ketone DOI: 10.1016/j.molcata.2004.08.020
• 1106 cm⁻¹ Vertrauen 1,0

  “cm(cid:2)1, 1040¨1180 Acknowledgments It shows a weak peak at 1106 which is attributed to the stretching vibration of Si-O.”

  Structural characterization of β-SiC nanowires synthesized by direct heating method DOI: 10.1016/j.msec.2005.09.083
• 1000 cm⁻¹ Vertrauen 1,0

  “In the spectrum peaks are observed cm-1 cm-1 in the region of 1258.88 corresponding to methyl, between 1000 - 1100 a peak cm-1 corresponding to the Si-O-Si bond and a band at 792.10 characteristic of the siloxanes, confirming the presence o”

  Fabrication of a silver particle-integrated silicone polymer-covered metal stent against sludge and biofilm formation and stent-induced tissue inflammation DOI: 10.1038/srep35446
• 1009 cm⁻¹ Vertrauen 1,0

  “3.3 Topographical analysis Si-O-Si modes.20 breathing The spectra display asymmetric cm(cid:1)1, stretching at 1009 which corresponds to the presence of The topographical investigation of pristine the PC, PC/FAC and PC/GFACwerestudiedbyAFM.”

  Thin film encapsulation of nano composites of polycarbonate (PC) for thermal management systems DOI: 10.1039/c4ra10183a
• 470 cm⁻¹ Vertrauen 1,0

  “cm-1 The absorption bands centered at around 470, 820, 1170, 2180, and 3300 can be assigned to the Si-N symmetric stretching, Si-N asymmetric stretching, N-H bending, Si-H stretching, and NH stretching modes, respectively.”

  Evolution of Optical and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in Silicon Nitride Films with Annealing Temperature DOI: 10.4028/www.scientific.net/JNanoR.49.163
• 721 cm⁻¹ Vertrauen 1,0

  “381.74 Si-Ob-Si bending vibration 720.8 128.70 725.9 110.96 766.2”

  Theoretical and experimental study of structures and properties of cement paste: The nanostructural aspects of C–S–H DOI: 10.1016/j.jpcs.2011.05.001