Silicium carbone — Pics d＇absorption FTIR et attributions

Réponse rapide

Silicium carbone est généralement attribué en recherchant un groupe récurrent de pics caractéristiques plutôt qu＇un numéro exact de manuel. Le tableau ci-dessous montre où la littérature place le plus souvent ce groupe en FTIR, classé par preuves accumulées.

Pics FTIR caractéristiques pour Silicium carbone

Affichage des 30 pics les mieux soutenus sur 129 au total pour Silicium carbone.

Matériaux possibles

Logique du spectre

Une attribution de groupe fonctionnel devient plus fiable lorsque plusieurs bandes attendues apparaissent ensemble. Utilisez cette page pour trouver les pics les mieux soutenus, puis confirmez que le même échantillon présente un motif cohérent plutôt qu＇un seul résultat isolé.

Utilisation réelle

Ces pages sont utiles pour l＇analyse de matériaux inconnus, l＇explication des pics dans les rapports, le dépannage des polymères et la vérification de la plausibilité chimique d＇une famille de matériaux candidate.

Erreurs courantes

• Utiliser une page de groupe fonctionnel comme verdict complet du matériau sans vérifier le reste du spectre.
• En supposant que la bande la plus forte est toujours la plus diagnostique.
• Oublier que le traitement, les additifs, le vieillissement et les mélanges peuvent décaler ou élargir les pics attendus.

Conseil de vérification

Utilisez DSC, GC-MS ou TGA lorsque plusieurs familles de matériaux partagent des bandes similaires ou lorsque les effets de mélange rendent l＇attribution FTIR incertaine.

Bibliographie derrière ces attributions

• 796 cm⁻¹ confiance 1,0

  “Les spectres Raman ont montré deux pics caractéristiques à 796 et 968 qui correspondent au mode optique transversal h-SiC, et au mode optique longitudinal respectivement.”

  Baek 等 - 2006 - Structural characterization of beta-SiC nanowires DOI: 10.1016/j.msec.2005.09.083
• 2900 cm⁻¹ confiance 1,0

  “Candidat de groupe de pics confirmé par LLM”

  Bhagat 等 - 2007 - Rapid synthesis of water-glass based aerogels by i DOI: 10.1016/j.apsusc.2006.07.016
• 820 cm⁻¹ confiance 1,0

  “Les spectres présentent des pics de transmission à environ 820, 1060 et 1270 correspondant à la flexion Si-O, à l＇étirement Si-O et Si-CH, respectivement [4].”

  Chabane 等 - 2009 - Characterization of SiOF thin films deposited by P DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.609.59
• 961 cm⁻¹ confiance 1,0

  “2 3 3 cm-1, cm-1 cm-1, SiOCH 2CH à 1390, étirement symétrique SiOC à 961 et étirement SiC à 789 sont”

  Chen 等 - 2007 - Structural characterization and corrosion properti DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.546-549.1111
• 1260 cm⁻¹ confiance 1,0

  “En raison des interactions LiTFSI/ PSx, un léger décalage de 1260cm-1 àῦ mode de flexion Si-CH = vers des nombres d＇onde plus élevés a été la membrane en raison du raidissement.”

  Cznotka 等 - 2016 - Characterization of semi-interpenetrating polymer DOI: 10.1016/j.ssi.2016.02.016
• 1200 cm⁻¹ confiance 1,0

  “la bande d＇absorption sic du chitosane à 1200 950 est moins intense”

  New versatile approach for analysis of PEG content in conjugates and complexes with biomacromolecules based on FTIR spectroscopy. DOI: 10.1016/j.colsurfb.2016.01.030
• 1200 cm⁻¹ confiance 1,0

  “1200cm-1, les espèces carbonyle, proches de la surface, peuvent interagir via hydroautour et l＇étirement Si-C contribuent à la liaison envegen avec un Si-H abaissant sa fréquence d＇étirement.”

  Giovannozzi 和 Rocchia - 2008 - Effect of the reaction time, reagent concentration DOI: 10.1016/j.snb.2007.10.043
• 780 cm⁻¹ confiance 1,0

  “liaison cm-1 avec n=1,2,3 à ~640 [13], liaison d＇étirement Si-C cm-1 cm-1 à ~780 [12], flexion SiH à ~900 [12] et C-H Tableau 1 Flux de H et B 2H utilisé.”

  Si and SiC nanocrystals in an amorphous SiC matrix: Formation and electrical properties DOI: 10.1002/pssc.201000176