หมู่ฟังก์ชัน FTIR
Silicon nitrogen — FTIR absorption peaks and assignments
These are the characteristic FTIR wavenumbers where Silicon nitrogen tends to absorb, compiled from published literature and ranked by supporting evidence. Each assignment is traceable to a source (DOI) and cross-validated against our 130,000+ reference spectra and knowledge graph.
Backed by 4 cited sources
Characteristic FTIR peaks for Silicon nitrogen
เอกสารอ้างอิงเบื้องหลังการกำหนดเหล่านี้
-
450 cm⁻¹ ความเชื่อมั่น 1.0
“Attributed to Si-N stretching due to silicon nitride.”
Ouadah 等 - 2022 - Optical and photoelectrochemical properties of nit DOI: 10.1080/2374068X.2021.1890420 -
490 cm⁻¹ ความเชื่อมั่น 0.9
“Explicit assignment in text.”
Hallam 等 - 2012 - Effect of PECVD silicon oxynitride film compositio DOI: 10.1016/j.solmat.2011.09.052 -
1162 cm⁻¹ ความเชื่อมั่น 0.9
“Explicit assignment: 'Si-N vibration 1162'”
Wang 等 - 2022 - Porous Silicon Oxycarbonitride Ceramics with Palla DOI: 10.3390/polym14173470 -
1075 cm⁻¹ ความเชื่อมั่น 0.7
“Narrow peak at about 1075, dominant FTIR feature related to Si-O/Si-N.”
del Prado 等 - 1999 - Effect of substrate temperature in SiOxNy films de DOI: 10.1116/1.582039
See Silicon nitrogen in your own spectrum
อัปโหลดสเปกตรัม FTIR ของคุณและรับรายงานการแปลความหมายฉบับสมบูรณ์ — การกำหนดพีคพร้อมการอ้างอิงเอกสาร การจับคู่ห้องสมุด และห่วงโซ่หลักฐานที่มีการให้คะแนนความเชื่อมั่น — ภายในไม่กี่วินาที
แปลความหมายสเปกตรัมของฉัน