FTIR FUNKSİONAL QRUP
Silicon nitrogen — FTIR absorption peaks and assignments
These are the characteristic FTIR wavenumbers where Silicon nitrogen tends to absorb, compiled from published literature and ranked by supporting evidence. Each assignment is traceable to a source (DOI) and cross-validated against our 130,000+ reference spectra and knowledge graph.
Backed by 4 cited sources
Characteristic FTIR peaks for Silicon nitrogen
Bu təyinatların arxasındakı ədəbiyyat
-
450 cm⁻¹ etibarlılıq 1,0
“Attributed to Si-N stretching due to silicon nitride.”
Ouadah 等 - 2022 - Optical and photoelectrochemical properties of nit DOI: 10.1080/2374068X.2021.1890420 -
490 cm⁻¹ etibarlılıq 0,9
“Explicit assignment in text.”
Hallam 等 - 2012 - Effect of PECVD silicon oxynitride film compositio DOI: 10.1016/j.solmat.2011.09.052 -
1162 cm⁻¹ etibarlılıq 0,9
“Explicit assignment: 'Si-N vibration 1162'”
Wang 等 - 2022 - Porous Silicon Oxycarbonitride Ceramics with Palla DOI: 10.3390/polym14173470 -
1075 cm⁻¹ etibarlılıq 0,7
“Narrow peak at about 1075, dominant FTIR feature related to Si-O/Si-N.”
del Prado 等 - 1999 - Effect of substrate temperature in SiOxNy films de DOI: 10.1116/1.582039
See Silicon nitrogen in your own spectrum
FTIR spektrinizi yükləyin və saniyələr ərzində tam interpretasiya hesabatı əldə edin — ədəbiyyat istinadları ilə pik təyinatları, kitabxana uyğunluqları və etibarlılıq dərəcəsi olan sübut zənciri.
Spektrimi interpretasiya et